扫描电子显微镜SEM(Scanning Electron Microscope)是利用高加速电压产生的入射电子束打击在样品后，产生相关二次讯号来分析样品各种特性，一般的二次讯号包括直射电子、散射电子、二次电子、背向散射电子、Auger电子及X射线等,描电镜最基本的成像信号是二次电子像，它主要用于反映样品外表立体形貌,由于其景深（Depth of Focus）大，对于研究物体表面结构功效特别显著，例如对材料断口、磨损面、涂层结构、夹杂物或无铅焊料锡须等观察研究。通过我们的电子显微镜设备可以从原子尺度上分析物质的结构和化学成分，揭示物质内在显微结构和宏观性能之间的关系，在物理学、材料科学、化学和生物学等学科领域有着广泛的应用。我们将为用户提供专业的电镜测试服务，利用我们的专业知识为用户提供数据分析服务。